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EVEN IJP AOI
发布时间：2025-02-21 19:03 作者：admin 次数：次
详细介绍
适用基于 8.6G代线 EVEN IJP AOI; 精度 5.0 [um]；节拍 180.0 [sec] Micro 检测单元、Macro 检测单元 回看单元、WSI 单元
关 键 特 征
N2 腔室 Micro 检测
-为氮气环境检查，增加联锁和设备安全功能
DAM 溢出 检测
-使用取样方法检查油墨溢出情况
Mura 检测
-增加了用于检测线状Mura、点状Mura、环 状Mura和橙色Mura的光学系统和程序。
关 键 特 征
N2 腔室 Micro 检测
-为氮气环境检查，增加联锁和设备安全功能
DAM 溢出 检测
-使用取样方法检查油墨溢出情况
Mura 检测
-增加了用于检测线状Mura、点状Mura、环 状Mura和橙色Mura的光学系统和程序。
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